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Zeiss Axiotron1 Infrared & VIS transmitted and incident configuration

Zeiss Axiotron1 Infrared & VIS transmitted and incident configuration

Microscope configuration for NIR Wafer Inspection & Material Research high-performance microscope, motorized software-controlled configurations available for DIE to DIE inspection, NIR enhanced Si camera or InGaAs high performance camera available

24 Bachmühlweg
74366 Kirchheim /Neckar

Telephone: +49 7143 - 40560
Fax: +49 7143 - 405629

Ergonomic, easy to handle.  Ocular 10x/25 glasses, 10x/25 glasses, focusable. Brightfield/ darkfield and DIC. Binocular phototube 25 with viewing angle 5° to 30°, tiltable with setting positions. The microscopes eye-point height is adjustable for about 80 mm, upright, non-reversed image in the large field 25. Center-adjustable illuminated field iris diaphragm. Motorized turning nosepiece with five objectives Epiplan-Neofluar HD DIC.
available with manual or motorized stages up to 6".
vacuum or non vacuum chucks for different sample specifications on request.
Ergonomisch, einfach zu bedienen. Okular 10x/25 Br, 10x/25 Br. fokussierbar. Hellfeld / Dunkelfeld und DIC. Binokularer Fototubus 25 mit Einblickwinkel 5° bis 30°, schwenkbar mit Raststellungen. Einblickhöhe um ca. 80 mm verstellbar, aufrechtes und seitenrichtiges Bild im Großfeld 25. Zentrierbare Leuchtfeld Irisblende. Motorisch drehbarer Objektivrevolver mit fünf Objektiven  Epiplan-Neofluar HD DIC.
manueller oder motorisierter Kreuztisch
bis zu 6".
Vakuum oder nicht-vakuum Chucks für unterschiedliche Proben. Spezifikationen auf Anfrage.
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