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Zeiss Axiotron1 Infrared & VIS transmitted and incident configuration

Zeiss Axiotron1 Infrared & VIS transmitted and incident configuration

Microscope configuration for NIR Wafer Inspection & Material Research high-performance microscope, motorized software-controlled configurations available for DIE to DIE inspection, NIR enhanced Si camera or InGaAs high performance camera available
 
Art.No.:Zeiss_Axio1

ProMicron
24 Bachmühlweg
74366 Kirchheim /Neckar

Telephone: +49 7143 - 40560
Fax: +49 7143 - 405629
Email: info@promicron.de

Ergonomic, easy to handle.  Ocular 10x/25 glasses, 10x/25 glasses, focusable. Brightfield/ darkfield and DIC. Binocular phototube 25 with viewing angle 5° to 30°, tiltable with setting positions. The microscopes eye-point height is adjustable for about 80 mm, upright, non-reversed image in the large field 25. Center-adjustable illuminated field iris diaphragm. Motorized turning nosepiece with five objectives Epiplan-Neofluar HD DIC.
 
Stage
available with manual or motorized stages up to 6".
 
Chuck
vacuum or non vacuum chucks for different sample specifications on request.
Ergonomisch, einfach zu bedienen. Okular 10x/25 Br, 10x/25 Br. fokussierbar. Hellfeld / Dunkelfeld und DIC. Binokularer Fototubus 25 mit Einblickwinkel 5° bis 30°, schwenkbar mit Raststellungen. Einblickhöhe um ca. 80 mm verstellbar, aufrechtes und seitenrichtiges Bild im Großfeld 25. Zentrierbare Leuchtfeld Irisblende. Motorisch drehbarer Objektivrevolver mit fünf Objektiven  Epiplan-Neofluar HD DIC.
 
Kreuztisch
manueller oder motorisierter Kreuztisch
bis zu 6".
 
Chuck
Vakuum oder nicht-vakuum Chucks für unterschiedliche Proben. Spezifikationen auf Anfrage.
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